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高亮度燈絲顯著提升掃描電鏡低真空成像

 發(fā)布時間:2019/4/28 點擊量:1393
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詳細介紹:

在掃描電鏡應用中,低真空技術可以實現(xiàn)對非導電樣品的直接觀察,無需噴鍍貴金屬,以免造成樣品表面細節(jié)被掩蓋、尺寸發(fā)生改變,成分信息減弱或消失等情況。

 

低真空技術是利用入射電子束電離樣品倉內(nèi)空氣分子產(chǎn)生正離子和自由電子(如圖1 所示),正離子在樣品表面荷電所形成的負電場的吸引下與負電荷產(chǎn)生中和,從而消除樣品表面荷電。

 

 

由于樣品表面荷電是因為入射電子束不能通過非導電樣品導走而產(chǎn)生的,因此樣品表面荷電會隨著入射電子束對樣品的掃描而不斷產(chǎn)生,同時入射電子束也會持續(xù)不斷電離空氣分子,從而產(chǎn)生正離子。當二者數(shù)量達到動態(tài)平衡時,樣品表面荷電現(xiàn)象消失。

 

如圖2 所示,利用掃描電鏡無噴鍍直接觀察蛋殼膜,0.1Pa 真空度下荷電嚴重,60Pa真空度下荷電消失。

 

 

圖2 利用低真空原理消除蛋殼膜表面荷電

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