飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)的背散射成像,用來掃描樣品和發(fā)現可疑的 “GSR" 顆粒。一旦發(fā)現可疑的顆粒,使用能譜(EDS)識別在該粒子中的元素。zui常見的搜索元素為 Pb,Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測,例如 Ti 和 Zn 也可為搜索條件進行搜索。
飛納電鏡射擊殘留物分析(GSR)是在臺式掃描電鏡運行自動射擊殘留物分析軟件。其設計基于飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL。軟件和硬件*一體化,以提高用戶操作界面友好性,可靠性和分析速度。Phenom GSR 包括以下三個項目:自動射擊殘留物分析和分類軟件包,BSED 和 EDS 探頭內部集成,校準試樣。
配備 CeB6 燈絲,使其穩(wěn)定運行,燈絲壽命不低于 1500 個小時,從可用性,適用性和運行時間的角度來看都非常理想。小于 1 分鐘的加載時間,和快速的全自動馬達樣品臺,使得飛納 GSR 成為高度自動化應用的理想工具,可以用來進行自動射擊殘留物分析。
飛納電鏡射擊殘留物分析 Phenom GSR
基于 CeB6 燈絲的高分辨圖像
直觀易用的 GSR 軟件
高吞吐量,一次性放置多達 36 個試樣
操作簡單,*丟失導航系統(tǒng),*集成能譜儀
測量結果準確可靠,廣泛兼容法醫(yī)領域的各類應用
規(guī)格參數
光學放大: | 3 - 16 X |
電子光學放大 | :200,000 X |
分辨率 | 優(yōu)于 8 nm |
數字放大 | Max. 12 X |
光學導航相機 | 彩色 |
加速電壓 | 4.8 Kv - 20.5 Kv 連續(xù)可調 |
真空模式 | 高分辨率模式 降低核電效應模式 高真空模式 |
探測器 | 背散射電子探測器 二次電子探測器 (選配) |
樣品尺寸 | zui大 100 mm X 100 mm 可同時裝載 36 個 0.5 英寸樣品臺 |
樣品高度 | zui高 65 mm,樣品高度全自動調節(jié) |
傳真:
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